詳細介紹
IC-PCT老化箱
PCT,即Pressure Cooker Test,也被稱為加速老化試驗,是一種模擬高溫高濕的環境條件的試驗方法。通過將產品放置在高溫高濕的環境中,加速產生各種老化現象,例如材料老化、電路老化等。通過持續測試和觀察,可以了解產品在長時間使用和暴露于惡劣環境中的情況,進而對其可靠性進行評估。
試驗箱采用高品質的材料和*進的技術,以確保試驗的準確性和穩定性。箱體采用厚重的不銹鋼材料制造,具有優異的耐腐蝕性和強度,能夠承受高溫和高濕的試驗環境。同時,裝備有*進的溫濕度控制系統,可以精確控制試驗過程中的溫度和濕度變化,保證試驗的穩定性和可靠性。
廣泛應用于電子、電器、汽車、機械等領域,用于對各種產品進行可靠性和耐久性的評估。例如,在電子行業中,可以用于測試電子元件、半導體芯片、電路板等在高溫高濕環境下的工作狀態和可靠性;在汽車行業中,可以用于測試汽車零部件的耐久性和性能表現。通過試驗箱的使用,可以加快產品的研發和改進流程,提高產品的質量和可靠性。
IC-PCT老化箱技術參數:
規格
1.內箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圓形試驗箱.
2.外箱尺寸: 600×920×690 mm(W×H×D)
3.內箱材質 : SUS 316#不銹鋼板材質.
4.外箱材質: 高級烤漆。
5.溫度范圍 : 105℃~132℃. (飽和蒸氣溫度).
6.濕度范圍 : 100%RH . (飽和蒸氣濕度).
7.壓力范圍(表上壓力) : 0.2Kg/cm2~2.0 Kg/cm2或(2.2 Kg/cm2)控制點壓力 (安全壓力容量3.5Kg/cm2 ).
8.時間范圍: 0 ~ 999 小時可調.
9.溫度分布: ≤± 2.0℃.
10.升溫時間:常溫 ~ 135℃約40分鐘內. (控制點溫度).
11.加壓時間:0.0Kg/cm2 ~ 2.2Kg/cm2 約45分鐘內(控制點壓力).
12.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.
13.控制方式:微電腦PID控制.
14.控制精度: ≤± 0.5℃.
15.解析精度:0.1℃.
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